Provkvaliteten på grafen har förbättrats avsevärt sedan upptäckten. En faktor som begränsade ytterligare förbättringar har hittills inte undersökts direkt, nämligen korrugeringar i grafenarket, dvs mikroskopiska snedvridningar som bildas även när de placeras på atomiskt plana ytor. Sådana korrugeringar kan sprida elektronerna när de rör sig genom en elektronisk anordning. Som gupp på en väg som saktar ner farten, korrugeringar i grafen långsamt gående elektroner. Efter utplattning av korrugeringarna, elektroner rör sig effektivt snabbare genom ett grafenark.

Forskare från Swiss Nanoscience Institute och Institutionen för fysik vid universitetet i Basel har utvecklat en teknik för att platta ut korrugeringar i grafenlager. Detta ledde till en förbättrad provkvalitet och kan tillämpas på andra tvådimensionella material. Resultaten publicerades nyligen i Fysiska granskningsbrev .

Tekniken som utvecklats av teamet av professor Christian Schönenberger från det schweiziska nanovetenskapsinstitutet och institutionen för fysik vid universitetet i Basel drar grafenarket på två motsatta sidor, därigenom platta och jämna ut den. "Det liknar att dra i en bit skrynkligt papper som stryker ut rynkor och veck, "säger Dr Lujun Wang, första författare till studien.

Dr Andreas Baumgartner säger, "Efter denna process, elektronerna färdas effektivt snabbare genom grafenarket, deras rörlighet ökar, visar en förbättrad provkvalitet."

Dessa fynd belyser inte bara elektrontransporten i grafen, men ger också tekniker för att studera andra tvådimensionella material.

Studien publiceras i Fysiska granskningsbrev .