Ett atomkraftsmikroskop (AFM) använder en skarp spets som sond för skanning. Detta spets är vanligtvis tillverkat av ett hårt material som kisel eller kiselnitrid och är fäst vid en utskjutning, en liten, flexibel stråle.

Här är en uppdelning av hur det fungerar:

* Tips: Spetsen är oerhört skarp, ofta med en radie av krökning av bara några nanometer. Detta gör att den kan interagera med enskilda atomer på ytan som skannas.

* The Cantilever: Cantilever är en liten stråle som vibrerar vid en specifik frekvens. Spetsen är fäst vid slutet av utskjutningen.

* skanning: AFM skannar ytan genom att flytta spetsen över den i ett rastermönster.

* Interaktion: När spetsen möter funktioner på ytan upplever den krafter (van der Waals krafter, elektrostatiska krafter etc.).

* detektion: Dessa krafter får utskjutningen att böja eller avböja. Denna avböjning detekteras av en laserstråle reflekterad från baksidan av utskjutningen på en sensor.

* Bildbildning: Sensorn upptäcker förändringarna i den reflekterade laserstrålen, som sedan används för att konstruera en bild av ytan.

AFM:s förmåga att bilda ytor på atomnivå beror på den otroligt vassa spetsen och känsligheten hos utskjutnings- och detekteringssystemet.