Den vänstra bilden är topografin; i mitten topografifelbilden; och höger den elektrostatiska kraftmikroskopbilden där spetsförspänningen har ändrats halvvägs genom bilden.
Forskare från NPL, i samarbete med Linköpings universitet, Sverige, har visat att områden av grafen med olika tjocklek lätt kan identifieras under omgivande förhållanden med hjälp av elektrostatisk kraftmikroskopi (EFM).
Grafenens spännande egenskaper är vanligtvis bara tillämpliga på materialet som består av ett eller två lager av grafenarken. Även om syntes av valfritt antal lager är möjlig, de tjockare skikten har egenskaper närmare den vanligare bulkgrafiten.
För enhetstillämpningar måste en- och tvåskiktsgrafen identifieras exakt bortsett från substratet och områdena av tjockare grafen. Exfolierade grafenark upp till ~100 μm i storlek kan rutinmässigt identifieras med optisk mikroskopi. Dock, situationen är mycket mer komplicerad när det gäller epitaxialgrafen som odlas på kiselkarbidskivor med en diameter på upp till 5 tum där det är svårt att enkelt identifiera grafentjockleken med standardtekniker. Denna forskning visar att EFM, som är en av de mest tillgängliga och enklaste implementeringarna av skanningssondsmikroskopi, kan tydligt identifiera olika grafentjocklekar. Tekniken kan också användas i omgivande miljöer som är tillämpliga på industriella krav.
Detta arbete publicerades nyligen i Nanobokstäver .
