(Phys.org) —De anmärkningsvärda egenskaperna och efterföljande tillämpningar av grafen har dokumenterats väl sedan det först isolerades 2004; dock, forskare försöker fortfarande hitta en snabb, billigt och effektivt sätt att mäta dess tjocklek.
En grupp forskare från Kina verkar ha löst detta problem genom att ta fram en universell metod med bara ett vanligt optiskt mikroskop.
I en studie som publicerades idag, 16 november 2012, i IOP Publishing's journal Nanoteknik , de har visat att tjockleken på grafen, tillsammans med en mängd andra tvådimensionella material, kan erhållas genom att mäta det röda, gröna och blåa ljuskomponenter när de reflekteras från materialets yta.
Studien visar att kontrasten mellan rött, gröna och blåa värden mellan substratet på vilket provet placeras och själva provet ökar med tjockleken på provet.
Metoden är snabb, lättmanövrerad och kräver ingen dyr utrustning.
Forskarna, från Harbin Institute of Technology vid Weihai och Southeast University, tror att detta är ett betydande bidrag till grundforskning och potentiella tillämpningar av material, såsom grafen, eftersom många av deras anmärkningsvärda egenskaper är beroende av tjockleken på själva materialet.
"Förr, metoder för att identifiera tjockleken på tvådimensionella material har varit mycket dyra och har haft en långsam genomströmning. Vår teknik kombinerar ett vanligt mikroskop med en enkel bit programvara, gör det väldigt snabbt, billigt och effektivt sätt att mäta tjocklek, "sa medförfattare till studien professor Zhenhua Ni.
Forskarna testade sin metod genom att undersöka mekaniskt exfolierad grafen, grafenoxid, kväve-dopad grafen och molybdenuymdisulfid, som alla har väckt stort intresse på grund av deras spännande elektriska, mekanisk, termiska och optiska egenskaper.
Ett standardoptiskt mikroskop användes för att få optiska bilder av proverna och en mjukvara som heter Matlab användes för att läsa den röda, gröna och blåa värden vid varje pixel i den optiska bilden.
Ramanspektroskopi och atomkraftsmikroskopi användes för att bekräfta forskarnas tjockleksmätningar.
