Ett team av forskare från ICMAB har bevisat att okonventionella AFM-sonder är lämpliga för att få en sann piezoelektrisk signal i piezoresponskraftmikroskopi. Arbetet, med titeln "Minska elektrostatik i piezoresponskraftmikroskopi genom längre eller ultrastyva spetsar, "publiceras i Tillämpad ytvetenskap .

Piezoresponse kraftmikroskopi är en teknik som används i piezoelektrisk. Varje år, nästan 300 manuskript inkluderade denna teknik i sin forskning, och den piezoelektriska gemenskapen publicerar mer än 5000 papper årligen.

I det här arbetet, Forskare testade nästan varje enskild AFM-ledande sond på marknaden med en ny metod som kvantifierar det elektrostatiska bidraget i deras mätningar. Metoden bygger på att lösa korrelationsfunktionen som beskriver de matematiska operationer som en inlåsningsförstärkare utför för att få signalerna. Efter den teoretiska beskrivningen, samma prov studeras med AFM-tips tillgängliga kommersiellt, genom att använda två olika typer av tester.

I det första testet, forskarna ökade den piezoelektriska signalen samtidigt som de bibehöll ett konstant elektrostatiskt bidrag. Genom att göra det här, monteringen av den piezoelektriska signalen ökar, och följaktligen, förändringarna i slutresultaten är dramatiskt annorlunda. Från detta test, det har visat sig att längre spetsar ger den renare signalen från den totala uppsättningen av sönder som används. Dessa resultat bekräftas genom användning av oberoende experiment som bekräftar de första resultaten. Implementeringen av denna lösning kan användas av alla AFM-tillverkare.