Coulombs lag anger att friktionskraften mellan två ytor i kontakt är direkt proportionell mot normalkraften mellan dem. Därför kommer spetsen på ett avsökningssondsmikroskop endast att uppleva friktion när den är i kontakt med ytan. För att förhindra att spetsen kraschar in i ytan måste normalkraften hållas tillräckligt liten. Detta kan uppnås genom att använda en mjuk konsol med låg fjäderkonstant.

För att beräkna den kritiska normalkraften använder vi följande formel:

```

F_n ≤ μF_t

```

där:

- F_n är normalkraften mellan spetsen och ytan

- F_t är den tangentiella kraft som appliceras på spetsen

- μ är friktionskoefficienten mellan spetsen och ytan

För ett typiskt scanningsprobmikroskop är friktionskoefficienten mellan 0,2 och 0,5. Om vi ​​antar en tangentiell kraft på 1 nN skulle den kritiska normalkraften vara mellan 0,2 nN och 0,5 nN. Detta är en mycket liten kraft, och det är lätt att spetsen kraschar in i ytan om den normala kraften inte kontrolleras ordentligt.

För att undvika att spetsen kraschar, måste skanningssondmikroskopet användas i ett beröringsfritt eller intermittent kontaktläge. I beröringsfritt läge hålls spetsen några nanometer ovanför ytan, och den vidrör inte ytan alls. I intermittent kontaktläge bringas spetsen i kontakt med ytan, men den dras omedelbart tillbaka innan den kan krascha in i ytan.