Användare från Purdue University, samarbetar med personal i CNM Electronic &Magnetic Materials &Devices Group, studerade CVD-odlad grafen på polykristallin kopparfolie för första gången i atomskala. Fynden för ultrahög vakuumscanningstunnelmikroskopi (UHV-STM) som utförs vid CNM hjälper till att styra optimeringen av syntesen mot defektfritt grafen.

Fokus för denna studie var att undersöka kvaliteten på filmerna och relativa orienteringar för olika grafendomäner med hjälp av UHV-STM-anläggningen vid CNM. Det senaste dokumentet behandlar också de resulterande konsekvenserna för domängränseffekter på transportegenskaper.

Arbetet följer tidigare studier gjorda på CNM som undersökte grafen på enkristall Cu (111). Liknar enkristallarbetet, det visades att domängränser dramatiskt påverkar bärarmobiliteten hos grafenarken. Möjligheten att syntetisera grafen av hög kvalitet för storskalig integration är en av de viktigaste utmaningarna för detta materialsystem. Grundläggande STM-experiment utförda i atomskala har gjort det möjligt att studera defekter i de vuxna filmerna.

Forskare från University of Houston, Texas State University, Carl Zeiss SMT, och Center for Functional Nanomaterials deltog också i studien, som presenteras som omslagsbild av Naturmaterial .