Transmissionselektronmikroskop (TEM) och scanningelektronmikroskop (SEM) är mikroskopiska metoder för visning av extremt små prover. TEM och SEM kan jämföras i provberedningsmetoder och tillämpningar av varje teknik.

TEM

Båda typerna av elektronmikroskop bombarderar provet med elektroner. TEM är lämplig för att studera insidan av objekt. Staining ger kontrast och skärningen ger ultratunna prov för undersökning. TEM är väl lämpad för undersökning av virus, celler och vävnader.

SEM

Prover som undersöks av SEM kräver en ledande beläggning som guldpalladium, kol eller platina för att samla överflödiga elektroner som skulle dölja bilden. SEM är väl lämpad för att se ytan på föremål som makromolekylära aggregat och vävnader.

TEM Process

En elektronpistol producerar en ström av elektroner som är inriktade av en kondensorlins. Den kondenserade strålen och överförda elektroner är inriktade av en objektivlins i en bild på en fosforbildskärm. Mörkare områden av bilden indikerar att mindre elektroner sändes och att dessa områden är tjockare.

SEM Process

Som med TEM, produceras en elektronstråle och kondenseras av en lins. Detta är en kurslins på SEM. En andra linsen bildar elektronerna i en tät, tunn stråle. En uppsättning spolar skannar strålen på samma sätt som tv. En tredje lins riktar strålen in i den önskade delen av provet. Strålen kan bo på en viss punkt. Strålen kan skanna hela provet 30 gånger per sekund.