Ett svepelektronmikroskop (SEM) är en typ av mikroskop som producerar en bild genom att skanna ytan på ett prov med en elektronstråle. Elektronerna interagerar med atomerna i provet, och de resulterande sekundära elektronerna detekteras och används för att skapa en bild. SEM kan producera högupplösta bilder av ytan på ett prov, och de används ofta för att studera materials mikrostruktur.